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電子元器件損壞特性總結(jié)(轉(zhuǎn))
發(fā)表日期:2017-09-28

    一切電子裝置如洗衣機(jī)、冰箱、空調(diào)、計(jì)算機(jī)、儀器、儀表、汽車電子等都是形形色色的,不同功能的電子電路組成。根據(jù)張飛第三大定律組成電子電路的基本單位是電子元器件,這些器件都是以硬件的形式存在的,它們都有各自的電氣參數(shù),如電壓電流及功率特性等,因此,元器件是最易損壞的物品,但其故障卻是有規(guī)律可循的。一般的故障表現(xiàn)為電氣參數(shù)損壞和物理?yè)p壞兩類,那么電氣參數(shù)的損壞又包含電壓電流超過額定值導(dǎo)致的損壞,物理的損壞包括斷裂,變形,阻值參數(shù)變化等表現(xiàn)形式。

一、電阻損壞的特點(diǎn)

    電阻是電器設(shè)備中數(shù)量最多的元件,但不是損壞率最高的元件。電阻損壞以開路最常見,阻值變大較少見,阻值變小十分少見。常見的有碳膜電阻、金屬膜電阻、線繞電阻和保險(xiǎn)電阻幾種。

    前兩種電阻應(yīng)用最廣,其損壞的特點(diǎn):一是低阻值(100Ω以下)和高阻值(100kΩ以上)的損壞率較高,中間阻值(如幾百歐到幾十千歐)的極少損壞;二是低阻值電阻損壞時(shí)往往是燒焦發(fā)黑,很容易發(fā)現(xiàn),而高阻值電阻損壞時(shí)很少有痕跡。

    線繞電阻一般用作大電流限流,阻值不大。圓柱形線繞電阻燒壞時(shí)有的會(huì)發(fā)黑或表面爆皮、裂紋,有的沒有痕跡。水泥電阻是線繞電阻的一種,燒壞時(shí)可能會(huì)斷裂,否則也沒有可見痕跡。保險(xiǎn)電阻燒壞時(shí)有的表面會(huì)炸掉一塊皮,有的也沒有什么痕跡,但絕不會(huì)燒焦發(fā)黑。根據(jù)以上特點(diǎn),在檢查電阻時(shí)可有所側(cè)重,快速找出損壞的電阻。

二、電解電容損壞的特點(diǎn)

電解電容在電器設(shè)備中的用量很大,故障率很高。電解電容損壞有以下幾種表現(xiàn):

一是完全失去容量或容量變小;

二是輕微或嚴(yán)重漏電;

三是失去容量或容量變小兼有漏電。

查找損壞的電解電容方法有:

(1)看:有的電容損壞時(shí)會(huì)漏液,電容下面的電路板表面甚至電容外表都會(huì)有一層油漬,這種電容絕對(duì)不能再用;有的電容損壞后會(huì)鼓起,這種電容也不能繼續(xù)使用;

(2)摸:開機(jī)后有些漏電嚴(yán)重的電解電容會(huì)發(fā)熱,用手指觸摸時(shí)甚至?xí)C手,這種電容必須更換;

(3)電解電容內(nèi)部有電解液,長(zhǎng)時(shí)間烘烤會(huì)使電解液變干,導(dǎo)致電容量減小,所以要重點(diǎn)檢查散熱片及大功率元器件附近的電容,離其越近,損壞的可能性就越大。

三、二極管、三極管等半導(dǎo)體器件損壞的特點(diǎn)

三極管的損壞一般是PN結(jié)擊穿或開路,其中以擊穿短路居多。此外還有兩種損壞表現(xiàn):

一是熱穩(wěn)定性變差,表現(xiàn)為開機(jī)時(shí)正常,工作一段時(shí)間后,發(fā)生軟擊穿;
另一種是PN結(jié)的特性變差,用萬(wàn)用表R×1k測(cè),各PN結(jié)均正常,但上機(jī)后不能正常工作,如果用R×10或R×1低量程檔測(cè),就會(huì)發(fā)現(xiàn)其PN結(jié)正向阻值比正常值大。

測(cè)量二、三極管可以用指針萬(wàn)用表在路測(cè)量,較準(zhǔn)確的方法是:

將萬(wàn)用表置R×10或R×1檔(一般用R×10檔,不明顯時(shí)再用R×1檔)在路測(cè)二、三極管的PN結(jié)正、反向電阻,如果正向電阻不太大(相對(duì)正常值),反向電阻足夠大(相對(duì)正向值),表明該P(yáng)N結(jié)正常,反之就值得懷疑,需焊下后再測(cè)。這是因?yàn)橐话汶娐返亩?、三極管外圍電阻大多在幾百、幾千歐以上,用萬(wàn)用表低阻值檔在路測(cè)量,可以基本忽略外圍電阻對(duì)PN結(jié)電阻的影響。

四、集成電路損壞的特點(diǎn)

集成電路內(nèi)部結(jié)構(gòu)復(fù)雜,功能很多,任何一部分損壞都無法正常工作。集成電路的損壞也有兩種:徹底損壞、熱穩(wěn)定性不良。徹底損壞時(shí),可將其拆下,與正常同型號(hào)集成電路對(duì)比測(cè)其每一引腳對(duì)地的正、反向電阻,總能找到其中一只或幾只引腳阻值異常。對(duì)熱穩(wěn)定性差的,可以在設(shè)備工作時(shí),用無水酒精冷卻被懷疑的集成電路,如果故障發(fā)生時(shí)間推遲或不再發(fā)生故障,即可判定。通常只能更換新集成電路來排除。

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